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簡要描述:光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合,可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子 |
光譜橢偏儀
成本效益
SENpro是具成本效益的光譜橢偏儀,同時(shí)不影響先進(jìn)測量性能。
可變?nèi)肷浣?/strong>
光譜橢偏儀SENpro包括可變?nèi)肷浣堑慕嵌扔?jì),40°—90°,步進(jìn)值5°,用于優(yōu)化橢偏測量。
步進(jìn)掃描分析器
SENpro具有步進(jìn)掃描分析器。在數(shù)據(jù)采集過程中,偏振器和補(bǔ)償器固定,以提供高的橢偏測量精度。
光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單,測量速度快,能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進(jìn)行組合分析等特點(diǎn)。光譜范圍為370到1050 nm。SENpro的光譜范圍與精密的SpectraRay/4軟件相結(jié)合,可以輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。
具有成本效益的桌面式SENpro包括可見光到近紅外橢偏儀光學(xué),5°步進(jìn)角度計(jì),樣品臺、激光準(zhǔn)直器、光纖耦合穩(wěn)定光源和探測器單元。SENpro配備了用于系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析的光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4 ,用于包括建模,擬合和報(bào)告輸出。即使對于初學(xué)者,該程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持計(jì)算機(jī)控制的用于均勻性測量的自動(dòng)掃描。
SENpro專注于薄膜測量的速度和精度,不管是何種薄膜應(yīng)用。測量范圍從1 nm的薄層膜到15 μm的厚層膜。
對于各種各樣的應(yīng)用,SpectraRay/4都提供了預(yù)定義的配方。
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