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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > > 光伏測(cè)量?jī)x > SENperc PV晶體硅太陽電池
簡(jiǎn)要描述：晶體硅太陽電池SENperc PV是為PERC太陽能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的。它測(cè)量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用于PERC電池(多晶硅襯底和c-Si襯底)的正面反射和背面鈍化。對(duì)沉積過程的穩(wěn)定性進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的監(jiān)測(cè)。由此，優(yōu)化了維護(hù)時(shí)間間隔。
產(chǎn)品型號(hào)：SENperc PV廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2024-07-10訪 問 量：596產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子 |
晶體硅太陽電池
多晶硅和C-Si基太陽能電池的質(zhì)量控制解決方案
SENperc PV是為PERC太陽能電池制造質(zhì)量控制而設(shè)計(jì)的。它測(cè)量SiO2、Al2O3和SiNX單層膜和疊層膜，這些單層膜和疊層膜用于PERC電池(多晶硅襯底和c-Si襯底)的正面反射和背面鈍化。對(duì)沉積過程的穩(wěn)定性進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的監(jiān)測(cè)。由此，優(yōu)化了維護(hù)時(shí)間間隔。
Al2O3和SiNx薄膜的厚度和折射率指數(shù)測(cè)量
SENperc PV 配備了基于配方的用于質(zhì)量控制按鈕操作。在樣品臺(tái)上放置一個(gè)PERC電池，涂有涂層的背面朝下以控制鈍化層。晶體硅太陽能電池插入到一個(gè)特殊的晶片架來分析防反射涂層。不需要對(duì)準(zhǔn)。雜散光不影響測(cè)量。測(cè)量到的厚度和折射率指數(shù)被保存到SQL數(shù)據(jù)庫中。
SiO2、Al2O3和SiNx沉積的長(zhǎng)期穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)
統(tǒng)計(jì)制程控制(SPC)被應(yīng)用于PERC太陽能電池的評(píng)估。預(yù)置范圍應(yīng)用于良率分析。向操作人員提供直接和長(zhǎng)期的反饋，以便立即進(jìn)行干預(yù)。SQL數(shù)據(jù)庫在本地以及通過LAN可訪問，以支持電池跟蹤和良率分析。除了按鈕操作之外，SENpercPV還配備了強(qiáng)大的軟件接口，用于新配方的研發(fā)。
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